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Xper WLI 白光干涉仪
Xper WLI 白光干涉仪 Xper WLI 白光干涉仪Xper WLI 是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器
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WLI LA 白光干涉仪
WLI LA 白光干涉仪 本仪器比以往的显微镜可测面积大得多,使用者需在大测量面积和大数值孔径之间进行适当平衡。数值孔径决定了横向分辨率和可测量的微观/宏观表面倾斜程度。选择
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WLI Lab 白光干涉仪
WLI测量系统是为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度、微观结构和其它表面参数而设计,可满足电子、汽车、制造工业的使用需求。扩展的显微镜模式能使用户获得具有以下特点的
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德国BMT WLI白光干涉仪
德国BMT WLI白光干涉仪 采用ACM 600 共焦显微镜可对物体的表面和结构进行非接触式的测量,评估和显示。装配不同的显微物镜,测量视场大小和精度也不同。视场的
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WLI Linnik 干涉仪
特点: · 测量范围:100/150 µm · 横向分辨率:≥0.2 µm · 垂向分辨率:1 nm · 2秒实现快速测量 · 在
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统
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白光干涉仪
通用 • 高度精密 • 快速 • 稳健可靠 • 自动拼接 白光干涉法是一个确定地形和表面光滑粗糙的方法。测量精度可达到近似纳米理论上无限的高度范围。这款白光干涉仪能够用来测量和分析样本的
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白光干涉仪
仪器简介: 德国FRT测量系统(白光干涉仪)应用于所有类型的表面测量分析。采用一个或多个传感器高精密地测量轮廓,表面粗糙度,平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。适合
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进口德国BMT WLI VLA干涉仪
德国BMT WLI VLA干涉仪德国BMT WLI VLA干涉仪可快色准确的测量粗糙和镜面反射工件的表面轮廓。可用于测量平整度、波纹度、扭曲、台阶高度和多种其他表面特性。产品特点:•粗糙和镜面反射
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进口德国BMT WLI Infra干涉仪
WLI Infra干涉仪德国BMT WLI Infra干涉仪是用于硅薄膜的厚度测量设备。仪器适用于实验室、车间和生产线上的质量管理。测量头提供空前的重复性,设计坚固紧凑、免维护,适用于在线测量。产品
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